半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：稳态湿热 高加速应力试验(HAST) (IEC 60749-4:2017) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-4:2017标准适用于半导体器件，具体规定了这些器件在湿热环境下的耐久性测试方法。该标准主要用于评估半导体器件在高湿度和高温条件下的性能和可靠性，确保其在恶劣环境中仍能正常工作。测试条件包括85°C温度和85%相对湿度，通常持续数百至数千小时。该标准适用于各种半导体器件，如集成电路、分立器件和传感器等，帮助制造商和用户评估器件在潮湿环境中的长期稳定性。