半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 (IEC 60749-3:2017) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-3:2017标准适用于半导体器件机械和环境试验方法中的机械冲击试验，主要用于评估半导体器件在运输、搬运或使用过程中承受非重复性机械冲击的能力。该标准规定了试验条件和程序，包括冲击脉冲波形、峰值加速度、脉冲持续时间等参数，适用于分立器件和集成电路等半导体器件的可靠性测试，以确保器件在实际应用中能够承受预期的机械冲击应力而不发生性能退化或失效。