半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性 (IEC 60749-9:2017) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-9:2017标准适用于半导体器件机械和环境试验方法中的机械冲击测试，主要用于评估半导体器件在运输或使用过程中可能遇到的机械冲击条件下的耐久性和可靠性。该标准规定了试验条件、测试程序和要求，适用于各种类型的半导体器件，包括分立器件和集成电路，确保它们在经受规定冲击后仍能保持正常功能。