半导体器件 - 恒定电流电迁移测试 (IEC 62415:2010) Semiconductor devices - Constant current electromigration test 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC62415:2010标准适用于半导体器件在高温环境下进行的电学参数测试，主要针对集成电路（IC）和其他半导体器件在高温条件下的静态和动态电学特性测量。该标准规定了测试条件、方法和程序，确保器件在高温工作环境下的可靠性和性能评估的一致性。它适用于研发、质量控制和可靠性测试等环节，为半导体行业提供统一的测试规范。