半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法 (IEC 60749-37:2022) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-37:2022适用于半导体器件的机械和气候试验方法，特别是针对半导体器件的耐硫化氢（H₂S）气体腐蚀试验。该标准规定了试验条件、程序和要求，用于评估半导体器件在含有硫化氢气体的环境中抵抗腐蚀的能力，确保其在特定恶劣条件下的可靠性和性能。该标准适用于各类半导体器件，包括集成电路和分立器件，主要用于工业、汽车和其他可能暴露于硫化氢环境的应用领域。