X射线衍射（XRD）是一种常用的材料表征技术，用于分析样品的晶体结构、相组成和晶格参数等信息。通过在不同温度下制备样品并进行XRD测试，可以研究温度对材料晶体结构的影响，例如相变行为、晶粒生长以及热稳定性等。这种实验方法广泛应用于材料科学、化学、物理和工程领域，为理解材料在不同温度条件下的结构演变提供了重要依据。