微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 (T/CIE 152-2022) 为中国电子学会发布。
本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。 本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。
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