T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法

半导体器件可靠性强化试验方法 (T/CIE 144-2022) 为中国电子学会发布。

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。 本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。