半导体器件 - 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性测试方法 - 第1部分：偏置温度不稳定性测试方法 (IEC 63275-1:2022) Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC63275-1:2022标准适用于电气和电子设备中使用的连接器及其相关组件的可靠性测试方法。该标准规定了连接器在机械、电气和环境应力条件下的测试要求和评估程序，旨在确保连接器在各种应用场景下的性能和耐久性。它适用于工业、商业和消费电子领域的连接器产品，为制造商和用户提供了统一的可靠性评估依据。