半导体器件 - 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 - 第2部分：体二极管操作导致双极退化的试验方法 (IEC 63275-2:2022) Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC63275-2:2022标准适用于电气和电子设备中使用的压电振动器件的测试和测量方法，主要针对频率控制和选择应用的压电器件。该标准规定了压电振动器件的电气特性、机械特性和环境特性的测试条件及程序，确保器件在指定工作条件下的性能和可靠性。它适用于制造商、测试实验室和相关行业，用于评估和验证压电器件是否符合设计要求和应用标准。