半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器件的标准可靠性测试方法 (IEC 60749-41:2020) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-41:2020适用于半导体器件在稳态湿热环境下的可靠性测试，主要用于评估非气密性封装半导体器件的耐湿性能，通过加速试验模拟高温高湿条件来检测器件在潮湿环境中的长期可靠性，适用于电子行业中的各种半导体元件和集成电路。