半导体器件 - 功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准 - 第3部分：使用光致发光的缺陷测试方法 (IEC 63068-3:2020) Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC63068-3:2020适用于电子电气设备中使用的压电元件的设计和测试，主要针对压电陶瓷、压电聚合物和压电复合材料等压电材料制成的元件。该标准规定了压电元件的性能参数、测试方法和可靠性评估要求，适用于通信、传感器、执行器、能量收集等领域的压电元件应用。标准旨在确保压电元件在电气、机械和环境条件下的可靠性和一致性，为制造商和用户提供统一的技术规范。