半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾试验 (IEC 60749-13:2018) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-13:2018标准适用于半导体器件在机械冲击条件下的测试方法，主要用于评估半导体器件在运输、搬运或使用过程中可能遇到的机械冲击环境下的耐受能力和可靠性。该标准规定了测试条件、程序和要求，适用于各种类型的半导体器件，包括分立器件和集成电路，确保它们在受到机械冲击时仍能保持规定的性能。