半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM） (IEC 60749-26:2018) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC60749-26:2018标准适用于半导体器件，规定了盐雾环境下的测试方法，用于评估半导体器件在盐雾环境中的耐腐蚀性能。该标准适用于评估器件在运输、储存或使用过程中可能暴露于盐雾环境时的可靠性，主要针对非气密性封装的半导体器件。测试条件包括温度、盐溶液浓度和暴露时间等参数，旨在模拟沿海或工业等含盐环境对器件的影响。