《半导体物理性能手册（第2卷上册）》是Springer手册精选原版系列中的重要著作，专注于半导体材料的物理性能研究。本书系统整理了半导体领域的关键物理参数和性能数据，涵盖了广泛的主题，包括能带结构、载流子输运、光学性质、热学特性等。作为一本权威参考书，它汇集了最新的实验数据和理论研究成果，为科研人员、工程师和学生提供了可靠的参考资料。书中内容深入浅出，既包含基础理论，也涉及前沿技术，适用于半导体物理、材料科学、电子工程等相关领域的研究和应用。本书结构清晰，数据详实，是从事半导体研究和开发的必备工具书，有助于读者深入理解半导体材料的物理特性，并推动相关技术的创新与发展。