国家标准GB/T17473.3-2008《微电子技术用贵金属浆料测试方法第3部分：方阻测定》是由中国国家标准化管理委员会发布的一项技术标准。该标准主要规定了微电子技术领域中使用的贵金属浆料的方阻（方块电阻）测定方法，适用于贵金属浆料在微电子器件制造过程中的质量控制与性能评估。标准详细描述了方阻测定的原理、测试设备、试样制备、测试步骤、数据处理及结果表示等内容，确保测试过程的科学性和结果的可比性。通过该标准，可以有效评估贵金属浆料的导电性能，为微电子产品的可靠性和稳定性提供技术依据。该标准适用于相关生产企业、科研机构及检测单位，对贵金属浆料的研发、生产和应用具有重要指导意义。
