纳米制造 关键控制特性 第3-3部分：发光纳米材料 半导体量子点荧光寿命的测定 采用时间相关单光子计数法 (IEC TS 62607-3-3:2020) Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC) 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 113。
IECTS62607-3-3:2020是一项技术规范，适用于纳米制造领域中对纳米材料关键性能参数的评估，特别是针对纳米材料的电学性能测量。该标准规定了用于评估纳米材料电导率和电阻率的标准化测试方法，适用于各种纳米结构材料，如纳米线、纳米管和纳米薄膜等，旨在确保测量结果的准确性和可比性，为科研和工业应用提供可靠的技术依据。