C-Si光伏（PV）组件 - 光照和高温诱导衰减（LETID）测试 - 检测 (IEC TS 63342:2022) C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 82。
IECTS63342:2022是一项国际电工委员会技术规范，主要适用于光伏组件用背板的耐久性评估和性能要求。该标准为光伏背板材料在长期户外暴露条件下的耐久性测试提供了指导方法和技术要求，包括耐候性、机械性能、电气绝缘性能等方面的评估。它适用于晶体硅光伏组件用背板材料，旨在确保背板在光伏组件预期使用寿命内保持所需的性能特性，从而保障光伏系统的可靠性和安全性。该技术规范为光伏行业背板材料的选择、测试和质量控制提供了技术依据。