半导体器件 - 柔性可拉伸半导体器件 - 第9部分：单晶体管单电阻（1T1R）阻变存储器单元的性能测试方法 (IEC 62951-9:2022) Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC62951-9:2022适用于半导体器件中柔性电子器件的可靠性测试方法，具体针对柔性电子器件的机械和环境应力测试，包括弯曲、拉伸、扭曲等机械应力以及温度、湿度等环境应力条件下的性能评估，旨在确保柔性电子器件在实际应用中的可靠性和耐久性，适用于相关制造商、测试机构和研发人员。