光电耦合器件低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11766-2020) 主管部门为工业和信息化部。
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
起草人：余永涛、胡为、张伟 等
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
简介
光电耦合器件低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11766-2020) 主管部门为工业和信息化部。
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
起草人：余永涛、胡为、张伟 等
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试