基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 (SJ/T 11845.2-2022)
此标准规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。
SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件
发布日期：2022-09-30，实施日期：2023-01-01，下载格式PDF。
简介
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 (SJ/T 11845.2-2022)
此标准规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。