DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

集成电路测试用微波探针应用规范 (DB51/T 3207-2024) 主管部门为四川省市场监督管理局，行业分类所属制造业。

起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所

起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪

本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。