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YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端

发布日期:2023-12-20,实施日期:2024-04-01,下载格式PDF。
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简介

通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端 (YD/T 3037.1-2023) 主管部门为工业和信息化部,行业分类所属信息传输、软件和信息技术服务业。

起草单位:中国信息通信研究院, 博鼎实华(北京)技术有限公司,中国移动通信集团有限公司,中国联合网络通信集团有限公司,中国电信集团有限公司,紫光国芯微电子股份有限公司,北京中电华大电子设计有限责任公司。

起草人:郑海霞、张苒、马凡、朱岩、邓建国、刘煜、乐祖辉、陈国华、王诗俊、刘斌、彭程、杨剑、赵敬超、何明、霍航宇、李建龙、王余、张炳楠、裴佳裕。

本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。

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