紫外诱导衰减（UVID）是指在紫外线长期照射下，光伏组件封装材料（如EVA、POE）及电池片表面发生化学或物理变化，导致输出功率下降的现象。紫外线通过破坏聚合物分子链、产生酸性物质，腐蚀银栅线和钝化层，非晶硅或钙钛矿电池尤为敏感。UVID主要影响组件前期功率的快速衰减，以及长期运行中的缓慢退化。表现为开路电压和填充因子下降，进而降低组件发电量。高海拔、低纬度地区因紫外线强度大，风险更高。对于双面组件或玻璃背板组件，背面入射的紫外线也会加剧衰减。通过对封装材料添加抗紫外剂、采用高透抗紫外玻璃，或优化电池钝化工艺，可延缓UVID。IEC61215等标准中的UVID测试（如UV序列）用于评估组件耐久性。若忽略此因素，电站25年发电量可损失5%以上，显著影响资产回报率，因此需在设计、选型和运维中重点防范。