透射电子显微学（TransmissionElectronMicroscopy，简称TEM）是一种利用高能电子束穿透样品，通过电磁透镜系统成像和分析的显微技术。其分辨率可达原子级别（0.1纳米以下），远高于光学显微镜，是材料科学、纳米技术、生物学等领域的重要研究工具。TEM的工作原理基于电子与样品的相互作用。电子束穿过超薄样品（通常小于100纳米）时，部分电子被散射或吸收，剩余电子携带样品的结构信息，经物镜、中间镜和投影镜放大后形成图像。通过调整透镜系统，可获得样品的形貌、晶体结构、成分分布等信息。TEM的主要功能包括：1.高分辨成像（HRTEM）：直接观察材料的原子排列。2.衍射分析（SAED）：确定晶体结构和取向。3.能谱分析（EDS/EELS）：获取元素组成和化学状态。应用领域涵盖：-材料科学：研究合金、陶瓷、半导体等微观结构。-生物学：观察细胞超微结构、病毒颗粒等。-纳米科技：表征纳米颗粒、量子点等。样品制备是TEM分析的关键环节，通常需要超薄切片、离子减薄或聚焦离子束加工等技术。现代TEM还配备环境样品室、原位测试等功能，可研究材料在加热、通电等条件下的动态变化。透射电子显微学的发展不断推动着人类对微观世界的认知，是当代科学研究不可或缺的工具之一。
