ASTMF2469-20标准提供了一种使用双重曝光法测量透明部件光学角度偏差的测试方法。该标准适用于评估透明材料（如飞机座舱盖、防护面罩等）在制造或使用过程中产生的光学畸变。双重曝光法通过比较被测部件与参考样本在两次曝光中的图像差异，定量分析光线通过透明部件时产生的角度偏差。这种方法能够有效识别和量化透明部件的微小光学缺陷，为质量控制和安全评估提供可靠依据。标准详细规定了测试设备、样品准备、测试程序和数据分析等要求，确保测量结果的准确性和可重复性。