边界扫描测试技术是一种广泛应用于电子电路板测试和诊断的先进方法，主要基于IEEE1149.1标准（也称为JTAG标准）。该技术通过在集成电路（IC）中嵌入边界扫描单元，实现对电路板上器件互连和功能的非侵入式测试。边界扫描测试不需要物理探针接触测试点，特别适用于高密度、多层电路板的测试场景。其核心原理是利用器件内部的扫描链结构，通过特定的测试访问端口（TAP）发送测试向量并捕获响应，从而检测开路、短路、焊接不良等制造缺陷，同时支持器件编程和系统调试。边界扫描测试技术广泛应用于航空航天、汽车电子、通信设备等领域，尤其在复杂PCB的研发、生产和维护阶段具有显著优势，能够显著提高测试覆盖率并降低测试成本。