《嵌入式系统中的辐射效应》是国际电气工程先进技术译丛2017年版的重要著作之一。本书深入探讨了辐射环境对嵌入式系统的影响，涵盖了辐射效应的基本原理、测试方法以及防护技术。内容涉及单粒子效应、总剂量效应等关键问题，并结合实际案例分析了辐射对电子元器件的损害机制。书中还介绍了抗辐射设计的最新进展，为航空航天、核能等高风险领域的工程师和研究人员提供了宝贵的参考资料。该书既适合作为相关专业的高年级教材，也可供从事辐射环境电子系统设计的专业人员阅读。