《国际电气工程先进技术译丛：过电应力(EOS)器件、电路与系统》是由美国著名专家史蒂文·H.沃尔德曼（StevenH.Voldman）所著，雷鑑铭翻译的2016年中文版专业书籍。该书深入探讨了过电应力（EOS）对电子器件、电路及系统的影响，涵盖了EOS的基本原理、失效机制、防护设计以及测试方法等内容。书中结合理论分析与实际案例，为工程师和研究人员提供了应对EOS问题的实用解决方案，是电子工程领域的重要参考资料。本书适合从事半导体器件设计、电路保护及可靠性研究的专业人士阅读，也可作为相关专业高年级学生和研究生的教材或参考书。