《国际电气工程先进技术译丛：嵌入式系统中的辐射效应》一书深入探讨了辐射环境对嵌入式系统的影响及其防护技术。本书系统介绍了辐射效应的基本原理、辐射环境对电子器件的损伤机制，以及嵌入式系统在空间、核工业等高辐射环境中的可靠性设计方法。内容涵盖单粒子效应、总剂量效应等关键问题，并提供了抗辐射加固设计、故障检测与恢复等实用解决方案。该书结合前沿研究成果与工程实践，为从事航空航天、核能、医疗设备等领域的工程师和研究人员提供了重要的技术参考，对提高嵌入式系统在极端环境下的可靠性具有重要指导意义。