MIL-HDBK-217F-1992是美国国防部发布的军用电子设备可靠性预测手册标准。该手册提供了电子元件和系统的可靠性预测方法，主要用于军事和航空航天领域的电子设备设计、评估和维护。该标准包含电子元件（如电阻、电容、晶体管、集成电路等）的失效率模型，并提供了环境因素、应力条件等对可靠性的影响分析。它广泛应用于国防、航天及高可靠性电子设备的设计和测试过程中。如需获取MIL-HDBK-217F-1992的全文，建议通过美国国防部标准化文档系统（DoDSSP）或授权分销商查询。请注意，部分军用标准可能涉及版权限制，下载和使用需遵守相关规定。
