JESD47K-2018-EN是由JEDEC固态技术协会发布的一份可靠性测试标准文件。该标准全称为"Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuits"，即集成电路应力测试驱动的认证标准。JESD47K-2018-EN提供了集成电路（IC）在应力测试条件下的可靠性评估方法，用于验证器件在预期应用环境中的性能和耐久性。该标准适用于半导体制造商、供应商和用户，确保产品在量产前通过严格的测试流程，以满足行业可靠性要求。该版本（K版）是对之前版本的更新，可能包含新的测试方法、条件或数据分析要求，以反映最新的技术和行业实践。它通常与其他JEDEC标准（如JESD22系列）结合使用，共同定义半导体器件的可靠性测试规范。该标准广泛应用于消费电子、汽车电子、工业设备等领域，帮助确保集成电路在长期使用中的稳定性和可靠性。
