X射线荧光光谱法（XRF）是一种非破坏性的分析技术，用于确定固体、粉末或液体样品中元素的组成。该方法通过用高能X射线或伽马射线照射样品，激发样品中的原子内层电子。当这些电子被激发后，外层电子会跃迁填补空位，同时释放出特征X射线荧光。通过测量这些荧光的能量和强度，可以确定样品中存在哪些元素以及它们的浓度。XRF广泛应用于材料科学、地质学、环境监测、考古学和工业质量控制等领域。