JESD22-A104C是由JEDEC（固态技术协会）发布的一项标准测试方法，主要用于评估电子元器件的温度循环可靠性。该标准详细规定了测试条件、设备要求和操作步骤，帮助制造商和用户评估器件在温度变化环境下的耐久性和性能稳定性。JESD22-A104C适用于半导体器件、集成电路和其他电子元件，通过模拟实际使用中的温度变化情况，验证器件在极端温度条件下的机械和电气可靠性。测试通常包括高温和低温的循环变化，记录器件在多次循环后的失效情况或性能变化。该标准是电子行业广泛认可的可靠性测试方法之一，为产品设计、质量控制和寿命评估提供了重要依据。