JESD22-A108G是由JEDEC制定的可靠性测试标准，主要用于评估半导体器件在高温工作条件下的长期可靠性。该标准规定了高温工作寿命（HTOL）测试的具体方法和要求，通过模拟器件在高温环境下的持续工作状态，验证其性能和寿命特性。测试通常在高于正常操作温度的条件下进行，以加速潜在失效机制的出现，从而评估器件在实际应用中的可靠性。JESD22-A108G适用于各种半导体器件，包括集成电路、分立器件等，是确保产品质量和可靠性的重要测试标准之一。