JEDECJESD22-A108F-2017是一项由JEDEC固态技术协会制定的标准测试方法，主要用于评估半导体器件在温度、偏置和工作寿命条件下的可靠性。该标准详细规定了测试条件和程序，旨在模拟器件在实际应用环境中的长期工作状态，以评估其性能和可靠性。测试通常包括高温工作寿命（HTOL）测试，通过施加高温和电偏置来加速器件老化，从而预测其在实际使用中的寿命和失效模式。该标准适用于各种半导体器件，包括集成电路和分立器件，是电子行业广泛认可的可靠性测试方法之一。