JEDECJESD22-A108F-2017是由JEDEC固态技术协会发布的标准文件，标题为"Temperature,Bias,andOperatingLife"。该标准主要针对半导体器件的可靠性测试，规定了在温度、偏置和工作寿命条件下进行加速寿命测试的方法和要求。该标准适用于评估半导体器件在长期工作环境中的可靠性表现，通过模拟实际使用条件下的应力（如高温、电压偏置等），加速器件老化过程，从而预测其寿命和失效模式。测试结果可用于改进产品设计、验证制造工艺的稳定性以及评估器件的可靠性指标。JESD22-A108F-2017是JEDEC可靠性测试系列标准的一部分，为行业提供了一套统一的测试流程和评估准则，确保不同厂商的测试结果具有可比性。该标准适用于集成电路、分立器件及其他电子元件的可靠性评估。
