JESD22-A108是由JEDEC固态技术协会制定的一项标准测试方法，主要用于评估非易失性存储器（如EEPROM和闪存）的耐久性。该标准规定了在高温条件下对存储器进行编程/擦除循环测试的具体流程和要求，以验证器件在长期使用中的可靠性和数据保持能力。测试通常包括在高温环境中施加电压应力，并监测存储单元的失效情况，确保器件在预期寿命内满足行业可靠性标准。该标准广泛应用于半导体存储器产品的质量认证和可靠性评估。