能带结构和态密度（DOS）图是研究材料电子性质的重要工具。能带图展示了电子在材料中的能量分布，揭示了导电性、带隙等关键特性。态密度图则描述了电子态在能量上的分布情况，有助于理解材料的电子结构特征。通过分析能带和态密度图，可以预测材料的导电类型（金属、半导体或绝缘体），评估载流子迁移率，并解释光学、磁学等物理性质。这两种分析手段在计算材料科学和凝聚态物理研究中具有广泛应用。