CheckCIF/PLATONReport简介CheckCIF/PLATONReport是一个用于晶体学数据验证的工具，主要用于检查单晶X射线衍射数据的质量和结构模型的合理性。该报告由国际晶体学联合会（IUCr）推荐使用，结合了PLATON软件的功能，能够自动检测晶体结构中的潜在问题，如键长、键角异常、无序原子处理、空间群选择错误等。CheckCIF部分提供了一套标准化的验证指标，确保数据符合出版要求；而PLATON则提供了更深入的几何分析和结构验证功能。该报告广泛用于学术期刊审稿过程，帮助研究人员和审稿人快速评估晶体学数据的可靠性。