二氧化锡JCPDS卡片数据库简介二氧化锡（SnO₂）是一种重要的半导体材料，广泛应用于气敏传感器、透明导电薄膜、催化剂等领域。JCPDS（JointCommitteeonPowderDiffractionStandards）卡片数据库是国际上公认的粉末衍射数据标准，为二氧化锡等材料的晶体结构分析提供了权威参考。该数据库收录了二氧化锡的标准X射线衍射（XRD）数据，包括衍射峰位置（2θ角度）、晶面间距（d值）、相对强度等关键参数，并标注了对应的晶面指数（hkl）。这些数据可用于物相鉴定、晶体结构分析以及材料表征研究。二氧化锡在JCPDS卡片中的典型编号包括：-锡石（Cassiterite）结构的标准卡片号：41-1445-其他变体或掺杂形式的二氧化锡可能有不同编号通过JCPDS卡片数据库，研究人员可以快速比对实验测得的XRD图谱与标准数据，验证二氧化锡的纯度、晶型及可能存在的杂质相，为材料研发和质量控制提供重要依据。（注：JCPDS后更名为ICDD，但传统仍沿用JCPDS称呼）
