几何相位分析法（GPA）是一种用于分析周期性结构（如晶体或准晶体）中应变场和位移场的实验技术。它基于高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）获取的图像数据，通过傅里叶变换处理来提取局部相位信息。GPA的核心思想是通过分析图像中晶格条纹的相位变化来量化应变和位移。该方法具有高空间分辨率，能够提供纳米尺度的应变分布信息，广泛应用于材料科学和纳米技术领域的研究。