颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 (T/CSP 13-2024) 团体名称为中国颗粒学会
主要起草人：常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高 原、郎爽、毛璐、周素红。
起草单位：国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股 份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体 技术协会。
适用范围：本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。 本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。
内容简要 微纳米异质结构的形貌、结构、成分以及界面等往往与材料的宏观性能密切相关，因此对微纳米异质结构样品多方面的准确分析显得尤为重要。透射电子显微镜是采用透过样品的电子束成像来显示样品…