射频前端器件及模组测试设备 (T/BDT 002-2024) 团体名称为中国半导体行业协会
主要起草人：胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、汪桃红、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文微电子科技股份有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
范围：本文件规定了射频前端器件及模组测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于射频前端器件及模组测试设备的设计、制造和检验。
内容简要 支持24射频端口器件的全自动全切换射频测试机，在满足0.5dB@0dB的校准精度的基础上实现8端口S参数和功率的自动校准，缩短校准时；间的同时减少手动校准带来误差，确保准确性S…