自旋转移矩磁随机存储器测试方法 (T/CIE 092-2020) 团体名称为中国电子学会
主要起草人：赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉
起草单位：北京航空航天大学 、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司
内容简要 本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-TransferTorqueMagneticRandomAccessMemory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试…