逆导型IGBT的热阻测试方法 (T/CIE 121-2021) 团体名称为中国电子学会
主要起草人：：陈媛、来萍、何小琦、冯士维、刘宇、李彦锋、王嘉蓉、田文燕、孟繁新、陈义强、付志伟、贺志远、周斌、刘昌
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、北京工业大学、中国振华集团永光电子有限公司、西安卫光半导体有限公司
内容简要 本文件以IGBT中体二极管导通电压为热敏参数，建立适用于逆导型IGBT器件的热阻测试电路和方法，规范逆导型IGBT的热阻测试流程，提高测试准确性。
简介
逆导型IGBT的热阻测试方法 (T/CIE 121-2021) 团体名称为中国电子学会
主要起草人：：陈媛、来萍、何小琦、冯士维、刘宇、李彦锋、王嘉蓉、田文燕、孟繁新、陈义强、付志伟、贺志远、周斌、刘昌
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、北京工业大学、中国振华集团永光电子有限公司、西安卫光半导体有限公司
内容简要 本文件以IGBT中体二极管导通电压为热敏参数，建立适用于逆导型IGBT器件的热阻测试电路和方法，规范逆导型IGBT的热阻测试流程，提高测试准确性。