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IEC TS 61994-4-4:2018 RLV 压电、介电和静电装置及相关材料用于频率控制、选择与检测 - 术语表 - 第4-4部分:压电材料 - 表面声波(SAW)器件用单晶晶片

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简介

压电、介电和静电装置及相关材料用于频率控制、选择与检测 - 术语表 - 第4-4部分:压电材料 - 表面声波(SAW)器件用单晶晶片 (IEC TS 61994-4-4:2018 RLV) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices 标准发布组织为IEC,国际组织机构所属TC 49。

IECTS61994-4-4:2018RLV适用于压电、介电和静电设备中使用的频率控制、选择、检测和产生用压电器件,具体规定了表面声波(SAW)和体声波(BAW)器件的术语和定义、测量方法以及性能特性,为相关器件的设计、制造和应用提供技术指导。

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