半导体X射线能谱仪标准测试规程 (IEC 60759:1983) Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 45。
IEC60759:1983规定了用于放射性核素成像的伽马射线探测器的性能测试和表示方法，适用于闪烁探测器、半导体探测器及其他用于测量伽马射线能量和强度的辐射探测系统。该标准主要涵盖探测器的能量分辨率、线性响应、效率、稳定性及环境适应性等关键性能参数的测试程序和报告要求，旨在确保不同制造商生产的探测器在医学诊断、核物理研究和工业应用中的性能一致性和可比性。