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IEC TR 63258:2021 纳米技术 - 评估纳米级薄膜厚度的椭圆偏振测量应用指南

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简介

纳米技术 - 评估纳米级薄膜厚度的椭圆偏振测量应用指南 (IEC TR 63258:2021) Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films 标准发布组织为IEC,国际组织机构所属TC 113。

IECTR63258:2021是一份技术报告,旨在为光伏(PV)系统直流侧电弧故障检测提供技术指导和建议。该报告适用于光伏发电系统中的直流侧电弧故障检测和保护,涵盖系统设计、检测方法、测试要求和性能评估等方面,适用于光伏组件、逆变器、接线盒等相关设备制造商、系统集成商和检测机构,帮助提高光伏系统的安全性和可靠性。

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