集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法 (IEC 61967-4:2021) Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47/SC 47A。
IEC61967-4:2021标准适用于集成电路（IC）电磁发射的测量，具体规定了使用1欧姆/150欧姆直接耦合法测量传导发射的方法。该标准适用于频率范围通常从150kHz到1GHz的电磁发射测试，旨在评估IC在正常工作条件下通过其引脚产生的传导干扰。它主要用于集成电路制造商、测试实验室和相关行业，以确保产品符合电磁兼容性（EMC）要求。该标准是IEC61967系列标准的一部分，为IC的EMC测试提供了统一和可重复的测量方法。